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筆記本電腦高溫高濕性能測(cè)試方法
點(diǎn)擊次數(shù):409 更新時(shí)間:2023-05-08

筆記本電腦高溫高濕性能測(cè)試方法:

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在我們的大自然環(huán)境中,溫度和濕度是不可分割的兩個(gè)自然因素,不同地區(qū)由于不同的地理位置,產(chǎn)生的溫度、濕度效應(yīng)也各不相同。本試驗(yàn)是用來(lái)確認(rèn)記本在溫濕度氣候環(huán)境條件下儲(chǔ)存、運(yùn)輸、使用的適應(yīng)性,試驗(yàn)的嚴(yán)苛程度取決于高/低溫、濕度和曝露持續(xù)時(shí)間。

測(cè)試環(huán)境: -10/+55

測(cè)試目的:高溫/低溫應(yīng)用性性能測(cè)試

試驗(yàn)方法:將筆記本電池充滿電,筆記本處于開(kāi)機(jī)狀態(tài),放入溫度實(shí)驗(yàn)箱內(nèi)的架子上,調(diào)節(jié)溫度控制器到-10/+55,持續(xù)2個(gè)小時(shí)之后在此環(huán)境下進(jìn)行電性能參數(shù)和功能檢查,對(duì)于翻蓋筆記本,應(yīng)將一半樣品合上翻蓋,一半樣品打開(kāi)翻蓋,對(duì)于滑蓋筆記本,應(yīng)將一半樣品滑開(kāi)到上限位置試驗(yàn)標(biāo)準(zhǔn):筆記本電性能參數(shù)指標(biāo)滿足要求,功能正常,外殼無(wú)變形。

試驗(yàn)標(biāo)準(zhǔn):筆記本電性能參數(shù)指標(biāo)滿足要求,功能正常,外殼無(wú)變形

測(cè)試環(huán)境: +45,95%RH

測(cè)試目的:高溫高濕應(yīng)用性性能測(cè)試

試驗(yàn)方法:將筆記本電池充滿電,筆記本處于開(kāi)機(jī)狀態(tài),放入溫度實(shí)驗(yàn)箱內(nèi)的架子上,持續(xù)48個(gè)小時(shí)之后,然后在此環(huán)境下進(jìn)行電性能檢查,對(duì)于翻蓋筆記本,應(yīng)將一半樣品合上翻蓋,一半樣品打開(kāi)翻蓋:對(duì)于滑蓋筆記本,應(yīng)將一半樣品滑開(kāi)到上限位置

試驗(yàn)標(biāo)準(zhǔn):筆記本電性能指標(biāo)滿足要求,功能正常,外殼無(wú)變形

高溫/低溫功能測(cè)試

測(cè)試環(huán)境: -40/+10

測(cè)試目的:高溫/低溫應(yīng)用性功能測(cè)試

試驗(yàn)方法:將筆記本處于關(guān)機(jī)狀態(tài),放入溫度實(shí)驗(yàn)箱內(nèi)的架子上,持續(xù)24個(gè)小時(shí)之后,取出,并放置2小時(shí),恢復(fù)至常溫,然后進(jìn)行結(jié)構(gòu),功能和電性能檢查。對(duì)于翻蓋筆記本,應(yīng)將一半樣品合上翻蓋,一半樣品打開(kāi)翻蓋:對(duì)于滑蓋筆記本,應(yīng)將一半樣品滑開(kāi)到上限位置.